工程实验室中的一排高度规，平板上的卡尺高度规并测量表面磁体上的产品尺寸图片
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工程实验室中的一排高度规，平板上的卡尺高度规并测量表面磁体上的产品尺寸
素材ID：715293618

在工程实验室中，有一排高度规，包括表面平板上的卡尺高度规，用于测量表面磁体上的产品尺寸，涉及到精密测量和工业制造等领域。
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  • 作者：Apicha
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