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用于集成电路制造质量控制和检测的晶圆上集成电路的电子显微镜扫描
素材ID：522097973

通过电子显微镜对晶圆上的集成电路进行扫描，这在集成电路的制造过程中用于质量控制和检测，确保芯片的性能和可靠性，涉及到复杂的技术和精密的工程。
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  • 格式：JPG
  • 作者：JimmyC
  • 最大分辨率：3687 x 4696px
  • 最大输出：31.22 x 39.76cm (300dpi) | 130.07 x 165.66cm (72dpi)

关键词

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