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实验室中的椭圆偏振仪工具。紫色的硅晶圆在椭圆偏振仪上测量薄膜厚度
素材ID:
347772788
在实验室中,椭圆偏振仪工具用于测量紫色硅晶圆上的薄膜厚度,体现了科学技术在材料研究和生产中的应用。
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格式:
JPG
作者:
Anatoly
最大分辨率:
3000 x 2000px
最大输出:
25.40 x 16.93cm (300dpi) | 105.83 x 70.56cm (72dpi)
关键词
技术
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