Manual probe system with needles for test of semiconductor on silicon wafer. Selective focus.图片
点 击 查 看 大 图

Manual probe system with needles for test of semiconductor on silicon wafer. Selective focus.
素材ID：316810092

  • 举报
  • 格式：JPG
  • 作者：Anatoly
  • 最大分辨率：3652 x 2435px
  • 最大输出：30.92 x 20.62cm (300dpi) | 128.83 x 85.90cm (72dpi)

关键词

连接电压水晶测试一下衬垫传感器机器数字探头计算机车站圆圈质量系统测量电子处理器联系人工业圆盘微型针头板显微镜制造业半导体晶体管特写镜头晶圆行业硅设备流程微芯片技术未来生产电路化验室电气芯片小费

京ICP备15019536号 增值电信业务经营许可证 京B2-20210167京公网安备 京公网安备 11010502045846号 网络文化经营许可证 京网文〔2023〕2258-086号网信算备：110105951222401250011号