在实验室显微镜下检查蓝宝石晶圆样本的特写。硅晶圆上的半导体。选择性聚焦。图片
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在实验室显微镜下检查蓝宝石晶圆样本的特写。硅晶圆上的半导体。选择性聚焦。
素材ID：316538697

在实验室中，通过显微镜对蓝宝石晶圆样本进行特写检查，这涉及到半导体、电子设备和制造业的相关技术和质量检测。
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  • 作者：Anatoly
  • 最大分辨率：3921 x 2614px
  • 最大输出：33.20 x 22.13cm (300dpi) | 138.32 x 92.22cm (72dpi)

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