在实验室显微镜下用探针台检查微芯片晶体管样品。硅片上的半导体。选择性聚焦。图片
点 击 查 看 大 图

在实验室显微镜下用探针台检查微芯片晶体管样品。硅片上的半导体。选择性聚焦。
素材ID：316536057

这是在实验室的显微镜下，通过探针台对微芯片晶体管样品进行检查的画面。半导体位于硅片上，采用了选择性聚焦，突出了检测过程中的关键细节，反映了电子行业的精密制造和质量控制环节。
  • 举报
  • 格式：JPG
  • 作者：Anatoly
  • 第三方权利说明：已取得肖像权或物权授权
  • 最大分辨率：4043 x 2696px
  • 最大输出：34.23 x 22.83cm (300dpi) | 142.63 x 95.11cm (72dpi)

关键词

测试一下衬垫传感器机器数字连接电压水晶计算机车站圆圈材料质量探头系统测量处理器联系人电子微型针头板显微镜制造业圆盘晶体管模具半导体测试晶圆行业硅设备流程技术生产化验室电气芯片小费电路

京ICP备15019536号 增值电信业务经营许可证 京B2-20210167京公网安备 京公网安备 11010502045846号 网络文化经营许可证 京网文〔2023〕2258-086号网信算备：110105951222401250011号