Precision machine inspecting a silicon wafer图片
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Precision machine inspecting a silicon wafer
素材ID：1673501262

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  • 作者：Capster
  • 最大分辨率：10752 x 6144px
  • 最大输出：91.03 x 52.02cm (300dpi) | 379.31 x 216.75cm (72dpi)

关键词

机器高级质量精度工程电子制作自动化控制制造业半导体测试晶圆行业硅研究流程微芯片技术检查生产电路

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