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工程师定期检查微小芯片晶圆缺陷实验室测试
素材ID:
1131331231
在实验室测试中,工程师会定期对微小的芯片晶圆缺陷进行检查。其中,“检查”“微小”“芯片”“晶圆”“实验室”“测试”是关键要素。
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格式:
JPG
作者:
Pasqualino
最大分辨率:
4096 x 2880px
最大输出:
34.68 x 24.38cm (300dpi) | 144.50 x 101.60cm (72dpi)
关键词
检查
测试
晶圆
微芯片
微小
化验室